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第19届IEEE 亚洲国际测试学术会议(IEEE ATS 2010)

发布日期:  2010/12/16  刘华   浏览次数: 部门: 未知   返回

        IEEE第19届亚洲国际测试系列学术会议,简称IEEE ATS’10 (英文全称: IEEE The Nineteenth Asian Test Symposium, Shanghai, China,)于2010年12月1 – 4日,在大宁喜来登酒店召开,并获得圆满成功。

        会议由IEEE Computer Society 和上海大学共同主办,并由上海大学承办。由中国国家自然科学基金委,中国计算机学会容错计算专业委员会,上海师范大学和上海市软件评测重点实验室协办。

        该会议自1992年开始由IEEE Computer Society TTTC (IEEE 测试理论与技术理事会) 创办的高层次系列学术会议,每年举办一次, 2010年召开的为第19次会议。该会历年来在亚洲地区召开(除一次在美国召开以外),

        出席本次会议的专家、教授、学者等与会者达到130位。其中中国大陆地区学者约40位,其余的与会者来自美国,加拿大,法国,德国,意大利,瑞典,瑞士,比利时,葡萄牙,荷兰,西班牙,爱沙尼亚,澳大利亚,日本,印度,伊朗,泰国,马来西亚,等国以及中国台湾和香港等地区等20个国家和地区。

        会议收到论文152篇,录用正式论文60篇,短文15篇,录用率为49%,邀请会议特邀报告(Keynote Speaker)2位,邀请学习班讲学(Tutorial)2位。会议论文集由IEEE CPS出版,由EI和ISTP收录。

        会议讨论和交流了当今世界上对数字电路最先进的测试技术和理论。报告了关于 SoC 和NoC系统的测试以及软硬件的可测性设计,软件测试,内建自测试和容错计算,可信计算系统的测试开发和评估等技术。

        会议在12月1日举办了测试技术学习班。12月2日会议正式开幕,会议开幕式由本次大会主席徐拾义教授主持,上海大学副校长吴松教授代表会议东道主上海大学到会热烈祝贺并致欢迎辞。吴校长对所有来沪参加ATS 2010学术会议的学者们表示热烈欢迎,同时,介绍了上海大学的发展和未来,吴校长热情洋溢的讲话受到与会者的一致好评。 著名杂志《中国科学》编辑部,专门派出一位副主任编辑特地从北京到上海参加本次会议,了解当今世界在数字系统方面最先进的测试技术的发展。

        会议于12月4日下午完成了最后的分会讨论,并在热烈的学术讨论气氛中成功、圆满胜利闭幕。


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